تجاوز إلى المحتوى الرئيسي
Toggle menu
تصفح ب
المؤلفين
المجموعات
الموضوعات
تواصل معنا
أدوات
ملاحظات الإصدار
تسليم محتوى
A-
A
A+
English
العربية
تسجيل الدخول
تسجيل الدخول
البحث الصوتي
×
ابدأ
توقف
Loading ...
Fulltext search
Media uses External URI
Sort by
Relevance
Views
العنوان
المؤلف
تاريخ النشر
Order
Asc
Desc
Results per page
20
40
60
80
البحث المتقدم
عدد العناصر المسترجعة: 2
تحديد الكل
أدوات البحث
تصدير بصيغة CSV
حفظ البحث
Items per page
20
40
60
80
Sort Options
الصلة
المشاهدات
العنوان
المؤلف
تاريخ النشر
Sort Order
ASC
DESC
شبكة
قائمة
تحديد الكل
الرسائل والأطروحات الجامعية
0
0
Optimal Test Pattern Generator Scheme for BIST Environment
Rizvi, Mohd Ahsan Kabir
Sultan Qaboos University
2015
Optimal Test Pattern Generator Scheme for BIST Environment
الرسائل والأطروحات الجامعية
2
0
An Enhanced binary multiplier based on a hybrid approach.
Senan, Fahad M.
Sultan Qaboos University.
2023
An Enhanced binary multiplier based on a hybrid approach.
التصفية
x
النص الكامل فقط
اللغة
الأنجليزية
(2)
الفئة
الرسائل والأطروحات الجامعية
(2)
تاريخ النشر
المجموعة
الرسائل والأطروحات
(2)
الموضوع
(Integrated circuits (Verificatian
(1)
Artificial intelligence
(1)
Automatic test equipment
(1)
Integrated circuits
(1)
Logic circuits
(1)
المؤلف
Rizvi, Mohd Ahsan Kabir
(1)
Senan, Fahad M.
(1)
الناشر
Sultan Qaboos University
(2)
sfy39587stp18