تجاوز إلى المحتوى الرئيسي
Toggle menu
تصفح ب
المؤلفين
المجموعات
الموضوعات
تواصل معنا
أدوات
ملاحظات الإصدار
تسليم محتوى
A-
A
A+
English
العربية
تسجيل الدخول
تسجيل الدخول
البحث الصوتي
×
ابدأ
توقف
Loading ...
Fulltext search
Media uses External URI
Sort by
Relevance
Views
العنوان
المؤلف
تاريخ النشر
Order
Asc
Desc
Results per page
20
40
60
80
البحث المتقدم
عدد العناصر المسترجعة: 1
(Integrated circuits (Verificatian
تحديد الكل
أدوات البحث
تصدير بصيغة CSV
حفظ البحث
Items per page
20
40
60
80
Sort Options
الصلة
المشاهدات
العنوان
المؤلف
تاريخ النشر
Sort Order
ASC
DESC
شبكة
قائمة
تحديد الكل
الرسائل والأطروحات الجامعية
0
0
Optimal Test Pattern Generator Scheme for BIST Environment
Rizvi, Mohd Ahsan Kabir
Sultan Qaboos University
2015
Optimal Test Pattern Generator Scheme for BIST Environment
التصفية
x
(Integrated circuits (Verificatian
مسح الجميع
النص الكامل فقط
اللغة
الأنجليزية
(1)
الفئة
الرسائل والأطروحات الجامعية
(1)
المجموعة
الرسائل والأطروحات
(1)
الموضوع
(-)
(Integrated circuits (Verificatian
(1)
Automatic speech recognition
(3)
Speech processing systems
(2)
Automatic control--Design
(1)
Automatic control.
(1)
Automatic detection
(1)
Automatic test equipment
(1)
Breast cancer
(1)
CBC (Complete blood count)
(1)
Data processing
(1)
Fuzzy logic
(1)
Induction motor
(1)
Integrated circuits
(1)
Linear control systems.
(1)
Neural networks
(1)
Sensor fault detection and isolation
(1)
Speeches^ addresses^ etc^ Arabic
(1)
Telephone lines
(1)
المؤلف
Rizvi, Mohd Ahsan Kabir
(1)
الناشر
Sultan Qaboos University
(1)
sfy39587stp18